Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

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Artikelnummer 9783867461948
Produkttyp Buch
Preis 65,00 CHF
Verfügbarkeit Lieferbar
Einband Kartonierter Einband (Kt)
Meldetext Folgt in ca. 10 Arbeitstagen
Autor Schmidt, Olaf
Verlag Examicus Verlag
Weight 0,0
Erscheinungsjahr 20130118
Seitenangabe 96
Sprache ger
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