Theoretische Bewertung der Reflexion in AL/SiO2-Dünnschichten

Die Verbesserung der optischen Eigenschaften eines Materials, wie z. B. des Reflexionsgrads, beinhaltet die komplexe Suche nach den optimalen experimentellen Parametern bei deren Gewinnung. Die Verwendung von Berechnungssoftware für die Simulation dieser Dünnschichtwachstumsprozesse stellt einen wesentlichen Vorteil dar, da keine Abhängigkeit von einem realen System besteht und ein breiterer Bereich der beteiligten physikalischen Größen untersucht werden kann. Darüber hinaus gibt es einen Bedarf in der Automobilindustrie, Varroc Lighting Systems© wurde mit der Aufgabe betraut, den Reflexionsgrad von aluminisierten Scheinwerfern zu verbessern. Daher haben wir die Entwicklung mit der Software NASCAM® durchgeführt, die die kinetische Monte-Carlo-Methode verwendet, um ein Modell des zu untersuchenden physikalischen Systems auf einer nanometrischen Skala zu entwickeln, was uns erlaubt, den Einfluss verschiedener Größen zu analysieren, die den Reflexionsgrad des Materials beeinflussen können.

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Artikelnummer 9786203622195
Produkttyp Buch
Preis 73,00 CHF
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Einband Kartonierter Einband (Kt)
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Autor Ortega Cabrera, Jesús Javier
Verlag Verlag Unser Wissen
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Erscheinungsjahr 20210418
Seitenangabe 84
Sprache ger
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