Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs

Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

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Artikelnummer 9783824420919
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Einband Kartonierter Einband (Kt)
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Autor
Verlag Deutscher Universitätsverlag
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Erscheinungsjahr 19970923
Seitenangabe 144
Sprache ger
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