Artikelnummer | 9783824420919 |
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Produkttyp | Buch |
Preis | 67,00 CHF |
Verfügbarkeit | Lieferbar |
Einband | Kartonierter Einband (Kt) |
Meldetext | Folgt in ca. 5 Arbeitstagen |
Autor | |
Verlag | Deutscher Universitätsverlag |
Weight | 0,0 |
Erscheinungsjahr | 19970923 |
Seitenangabe | 144 |
Sprache | ger |
Anzahl der Bewertungen | 0 |
Oberflächenanalytische Charakterisierung von metallischen Verunreinigungen und Oxiden auf GaAs Buchkatalog
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.
67,00 CHF
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