Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betra...
In dieser Arbeit werden die überlagerten Fehlermechanismen innerhalb von Lotverbindungen zur Bewertung der Zuverlässigkeit bei Elektromigration untersucht und modelliert. Das bestehende theoretische Verständnis wird durch eine isolierte Betrachtung überlagerter Einflussgrößen erweitert. Ein physikalisch begründetes Modell wird abgeleitet und die nicht ausreichend quantifizierten und qualifizierten Zusammenhänge werden aufgezeigt. In einem aufgebauten numerischen Modell können Modellvorstellungen bei variierenden Randbedingungen abgebildet werden. Zur ...