Artikelnummer | 9783658409562 |
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Produkttyp | Buch |
Preis | 51,90 CHF |
Verfügbarkeit | Lieferbar |
Einband | Kartonierter Einband (Kt) |
Meldetext | Libri-Titel folgt in ca. 2 Arbeitstagen |
Autor | Baumann, Peter |
Verlag | Springer-Verlag GmbH |
Weight | 0,0 |
Erscheinungsjahr | 20230502 |
Seitenangabe | 217 |
Sprache | ger |
Anzahl der Bewertungen | 0 |
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Buchkatalog
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.
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